Ellipsometrik ölçmələrdən yarımkeçiricinin kritik nöqtələrinin tapılması praktikası - - Monoqrafiya

“Ellipsometrik ölçmələrdən yarımkeçiricinin kritik nöqtələrinin tapılması praktikası” - Monoqrafiya

“Ellipsometrik ölçmələrdən yarımkeçiricinin kritik nöqtələrinin tapılması praktikası” monoqrafiyası işıq üzü görüb

 

AMEA Naxçıvan Bölməsinin Təbii Ehtiyatlar İnstitutunun Fiziki tədqiqatlar laboratoriyasının rəhbəri,fizika üzrə fəlsəfə doktoru, dosent Məmməd Hüseynəliyevin “Ellipsometrik ölçmələrdən yarımkeçiricinin kritik nöqtələrinin tapılması praktikası” monoqrafiyası nəşr olunub.
Monoqrafiyada spektroskopik ellipsometriyanın nəzəri əsasları verilib, nazik təbəqənin qalınlığının, materialın optik sabitlərinin, səthdə və aralıq qatda komponentlərin faizinin tapılması, həmçinin onun yarımkeçirici qarışıqda (bərk məhlulda) tərkib analizi məsələləri yer alıb.
Yeni nəşrdə ilkdəfə “GraphicalAnalysis” proqramı tətbiq olunmaqla materialınkritik nöqtələrinin tapılmasıpraktikası həyata keçirilib və bu işin yerinə yetirilməsi metodologiyası PbS nazik təbəqəsi və monokristalı misalında ətraflı şərh olunub.
Monoqrafiya elmi ictimaiyyət və mövzu ilə bağlı maraqlanan tədqiqatçıların istifadəsi üçün nəzərdə tutulub.
 

 
 ( Sos.şəbəkədə gedən yazışmanin FOTO-ƏKSİndə olan qramatik və məzmun səhvlərinə görə redaksiya məsuliyyət daşımır ) 
 Bütün hüquqlar qorunur ! Xəbərlərdən istifadə edərkən    www.AZpress.AZ    saytına istinad zəruridir !